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黄一恒^1,2，刘佳伟^1,2，李泉洲^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；工业装备质量大数据工业和信息化部重点实验室）.基于FRACAS 的设备运维管理应用研究^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期荣文晶^1,2，李帅^1,2，彭辉^1,2，云雷^1,2，吴波^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；智能制造装备通用质量技术及应用工业和信息化部重点实验室）.基于时空关联的核电5G 网络安全态势感知方法研究^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期李澍桐^1,2，杨文生¹，荣爽^1,2，刘紫芸³，黄登甲^1,2，张锐^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室；暨南大学环境学院）.“双碳”愿景下关于汽车可靠性工作的思考^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期惠财鑫^1,2,3，赵鹏^2,3，黄云^2,3，路国光^2,3，贺致远^2,3，施宜军^2,3，陈义强^2,3，卢向军¹（厦门理工学院材料科学与工程学院；工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.电子元器件热应力仿真技术综述^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期王欢欢^1,2，荣文晶^1,2，李帅^1,2，马燕娇^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；智能制造装备通用质量技术及应用工业和信息化部重点实验室）.密码应用技术在工业控制系统中的应用^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期张少勇¹，刘斌辉^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；智能产品质量评价与可靠性保障技术工业和信息化部重点实验室）.18～40GHz频段辐射杂散测试方法探讨^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期韦拢^1,2，韦覃如^1,2，赵鹏^1,2，李政槺³，周镇峰³，林晓玲^1,2，章晓文^1,2，高汭^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室；华南理工大学电子与信息学院）.沟道长度对国产28 nm pMOSFET NBTI 的影响研究^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期高汭^1,2，王斌¹，赵鹏^1,2，林晓玲^1,2，章晓文^1,2，贺致远^1,2，陈义强^1,2，路国光^1,2，黄云^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室）.GaN MIS-HEMT 偏置温度不稳定性表征和寿命预测^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期刘雅智（工业和信息化部电子第五研究所）.科研院所科研财务助理制度建设研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期彭继煌，贺思婷，魏武（工业和信息化部电子第五研究所）.直流大电流测量系统不确定度分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期卢威，张贝贝，刘苢，申策（工业和信息化部电子第五研究所）.电子血压计静态和动态压力校准方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期江丰^1,2，刘丽红^1,2，蔡自刚^1,2，李劲^1,2，陆家乐^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.不同防护工艺涂层西沙自然环境适应性分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期王玉忠，李小娟，林治，刁硕（工业和信息化部电子第五研究所）.镍金镀层缺陷导致焊接质量问题的失效分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期谢章用^1,2，蔡自刚^1,2，陆家乐^1,2，王斗辉^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.基于多源信息融合的实航可靠性综合评价方法[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期刘树强，何继夫，赵鹏飞，韩立帅（工业和信息化部电子第五研究所）.基于加速模型的光耦寿命评估技术研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期梁超¹，唐敬¹，王吉¹，周健¹，王远航^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.工业机器人健康管理数字孪生模型研究及应用[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期江丰^1,2，闫晓亮^1,2，谢章用^1,2，李劲^1,2，陆家乐^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.批产可靠性验收试验现状及工程应用方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期杨斌，申祥平，梁健同（工业和信息化部电子第五研究所）.信号发生器输出端口电压驻波比测量方法探讨[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期余思达，郑曾雄，张乔木（工业和信息化部电子第五研究所）.关于电能表加速寿命试验标准的分析与探讨[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期陈少狮，刘永亮，易军（工业和信息化部电子第五研究所）.纸箱抗压试验机试验力测量不确定度评定[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期杨子洲¹，陈佳宁¹，张泽^1,2，王学孔^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.焊锡套管组件耐环境性能研究及失效分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期石樊帆¹，毛磊¹，王清洲¹，吴琴²，朱炜容¹（中兴通讯(南京)有限责任公司；工业和信息化部电子第五研究所）.X 射线照射对半导体分立器件的影响分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期易军，陈铭，黄蓓（工业和信息化部电子第五研究所）.拉力剪切力试验机的校准探讨[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期李翔¹，王婕²（工业和信息化部电子第五研究所；OPPO广东移动通信有限公司）.线材测试仪Signature 1000H+校准方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期郑健荣，肖业耐，高贯玺（工业和信息化部电子第五研究所）.低值电阻的交直流变差校准方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期苏阳，刘福稼，彭益炜（工业和信息化部电子第五研究所）.一种眼图仪消光比的溯源方法[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期谢章用^1,2，闫杰^1,2，陆家乐^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.高原环境下电子装备环境适应性问题研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期任艳，杨柳，张树琨，周圣泽（工业和信息化部电子第五研究所）.电子元器件标准军民通用现状分析及发展建议[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期江丰^1,2，孙金祎^1,2，高鸣哲^1,2，闫晓亮^1,2，张毅男^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.基于延寿技术的电子设备储备策略研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期温舒炜，周水生（工业和信息化部电子第五研究所）.印度封闭式压缩机防锈测试新旧要求对比解读[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期首页 1 2 3 4 5 下一页尾页共有9页，转到页

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