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惠财鑫^1,2,3，赵鹏^2,3，黄云^2,3，路国光^2,3，贺致远^2,3，施宜军^2,3，陈义强^2,3，卢向军¹（厦门理工学院材料科学与工程学院；工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.电子元器件热应力仿真技术综述^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A2期冯嘉珍，何宗科，朱军华（工业和信息化部电子第五研究所）.基于GA-MC法的机械混合时变可靠性评估^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期刘务^1,2，杨春晖¹，薛智锋^1,2，林军^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；工业软件工程化与应用技术工信部重点实验室）.工业软件测试验证体系研究^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期陈泽昇^1,2,3，陈暄^1,2,3，何宗科^1,2,3，张钟文^1,2,3，罗琴^1,2,3（工业和信息化部电子第五研究所；电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程研究中心；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.发动机风扇噪声优化设计研究^★[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期任艳，周圣泽，王之哲，杨柳，谢燊坤（工业和信息化部电子第五研究所）.AEC-Q100 H版标准规范解读[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期虞飞，徐军（工业和信息化部电子第五研究所）.基于改进GAA的测试用例自动生成技术研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期康京山，李科（中国电子科技集团公司第五十四研究所）.复杂装备测试性要求的多视角分析方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期杨帆（工业和信息化部电子第五研究所）.手持式数字万用表自动校准系统的设计策略[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期陈鄞琛，张宇韬（工业和信息化部电子第五研究所）.测试失误引起的集成电路失效分析及预防措施[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期寇俊（中国电子科技集团公司重庆声光电有限公司）.检验报告的质量提升方法[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期曹浩龙，吴谋智，何继夫，杜伟平（工业和信息化部电子第五研究所）.水汽检测原理及其对元器件可靠性的影响[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期吕志召¹，梁国胜²，雷军²，潘俊平²，陈毓彬²（国营芜湖机械厂；工业和信息化部电子第五研究所）.飞机用电线电缆接线端子连接可靠性研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期杨妙林，任瑛（工业和信息化部电子第五研究所）.集成电路分层的失效分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期赵怡然，伍盛达（工业和信息化部电子第五研究所）.视频安防监控系统图像质量现场检测方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期杨云帆¹，张清点¹，黄创绵^1,2,3，周健¹，王远航¹（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室；电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程研究中心）.柱塞泵气蚀故障模拟试验系统开发[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期陈雪霞，陈再举（工业和信息化部电子第五研究所）.气体压力变化对露点仪校准结果的影响分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期张来平¹，赖岸²，杜旭东¹（工业和信息化部电子第五研究所；广州赛宝科技园有限公司）.中小企业研发创新困境及突破建议[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期张清点^1,2，李刚^1,2（工业和信息化部电子第五研究所；广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室）.环境试验与可靠性试验的关系[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期罗凯元，王蜜（工业和信息化部电子第五研究所）.图像尺寸测量仪校准方案的研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期黎珊姗，郑远伟（工业和信息化电子第五研究所）.移动式气体流量计校准仪数据采集系统设计[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期郭彬（中国电子科技集团公司第十三研究所）.一种紧凑型波导同轴微带转换的设计[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期陈鄞琛，贺云（工业和信息化部电子第五研究所）.基于V93000 MTP的存储器测试[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期谢振锋，范思绮（工业和信息化部电子第五研究所）.二极管应用失效研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期贾渊，林冠（工业和信息化部电子第五研究所）.电容量测量的不确定度分析与评定[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期詹惠贞，丁翔（工业和信息化部电子第五研究所）.烙铁温度计校准方法的优化方案探讨[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期刘鹏，陈兴，段誉，李胜海（工业和信息化部电子第五研究所）.物联网综测仪数字调制质量参数测量校准研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期胡洪江，林华辉，李浪华（工业和信息化部电子第五研究所）.电容器瞬间开短路信号测试原理及应用[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期胡洪江，李浪华，林华辉（工业和信息化部电子第五研究所）.电容器自愈性击穿的3种探测方法的分析对比[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期祁艳艳，吕文豹，张静（沈阳辽海装备有限责任公司）.基于DAS通用质量特性参数定量方法分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期杨欣磊¹，于坤洋²，汪凯蔚¹，贺天远¹，熊伊¹，李锴¹（工业和信息化部电子第五研究所；中国人民解放军93126部队）.装备环境鉴定试验数据采信流程研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第A1期首页上一页 1 2 3 4 5 下一页尾页共有9页，转到页

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