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张义1,王腾研1,侯岳1,张红旗1,雷晟2,关晓清2,王楠3,贾红波3(中国航天宇航元器件工程中心;郑州航天电子技术有限公司;北京卫星制造厂有限公司).宇航用电路快速断接器锁紧失效分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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刘馨1,俞鹏飞1,2(工业和信息化部电子第五研究所;电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室).我国软件名城发展现状与建议[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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钱国栋(海装驻南京地区第三军事代表室).直升机图像传输设备实物比测试验方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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段飞飞,王田宇(国营长虹机械厂).航空装备可靠性增长评估技术研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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郭启勇,曾宪金(工业和信息化部电子第五研究所).基于TEM小室的环天线校准系统研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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崔艳红(广州五所环境仪器有限公司).企业实施ERP过程中基础数据配置及业务流程优化[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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孙明辉,王剑峰,王波(中国电子科技集团公司第五十八研究所).封装设计中辐射EMI产生机理及其抑制方法综述[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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云雷,李丹,王欢欢(工业和信息化部电子第五研究所).钓鱼网站检测技术研究综述[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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(《电子产品可靠性与环境试验》编辑部).关于防范不法分子对本刊作者进行诈骗的声明[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第5期
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迟慧智,田宇(工业和信息化部电子第五研究所).图像边缘检测算法的分析与研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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詹林其1,2,徐建平3,陈军1,2,刘斌辉1,2,夏江1,2(工业和信息化部电子第五研究所;智能产品质量评价与可靠性保障技术工信部重点实验室;中国质量认证中心广州分中心).智能家电互联互通的现状分析★[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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周圣泽,毛毛,蔡志刚(工业和信息化部电子第五研究所).高可靠SiP 产品考核评价要求探讨★[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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邱森宝1,2,3,何利蓉1,2,3,张少锋1,2,3,张博1,2,3,王春辉1,2,3(工业和信息化部电子第五研究所;广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室;广东省工业机器人可靠性工程实验室).复合材料连接件热带海洋大气环境影响效应研究★[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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巩宇1,李碧薇2,李德华1,阳曦鹏1,陈强1(中国南方电网有限责任公司调峰调频发电公司;工业和信息化部电子第五研究所).基于知识图谱的电力设备故障知识库构建方法[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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王韬,张国英(工业和信息化部电子第五研究所).后疫情时代全面质量管理研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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孔叔钫1,2,时钟1,2,谢丽梅1,2,熊伊1,2(工业和信息化部电子第五研究所;安全可靠软硬件性能与可靠性测评工业和信息化部重点实验室).民机发动机部附件振动适航取证导则★[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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徐晓岭1,王蓉华2,顾蓓青1(上海对外经贸大学统计与信息学院;上海师范大学数理学院).BS 疲劳寿命分布序-恒试验的统计分析★[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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李寿全(北京新能源汽车技术创新中心有限公司).金属封装功率器件管壳镀金层腐蚀机理研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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陈冲冲,樊虎,曾凡,王毅飞,张进(中国人民解放军93160部队).电路设计引发的“六性”问题研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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张宏飞1,李丹2(陆军装备部驻洛阳地区航空军事代表室;中国电子科技集团公司第二十四研究所).沾污对外壳可靠性的影响分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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徐军军,黄文锋(工业和信息化部电子第五研究所).光耦在实际应用中的几种常见失效[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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马双炯1,2,屠倩雯1,2(工业和信息化部电子第五研究所;宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司).中国强制性产品认证概述[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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冯文昕1,孙哲2,李道豫1,邱志远1,黄伟冠2(中国南方电网超高压输电公司贵阳局;工业和信息化部电子第五研究所).光电耦合器应用失效研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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吴波1,2,胡璇1,2,金先涛1,2(工业和信息化部电子第五研究所;智能制造装备通用质量技术及应用工业和信息化部重点实验室).自动控制系统可信安全防护方案设计[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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张国龙,石景岚,方远,吕鑫(光电对抗测试评估技术重点实验室).基于环境应力数据的使用可靠性预测方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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邓腾飞1,曲涵笑2(深圳市美信咨询有限公司;中车长春轨道客车股份有限公司).车载转向灯模组三极管烧毁分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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韩立帅,王玉忠(工业和信息化部电子第五研究所).基于焊接工艺优化的混装BGA 焊点孔洞研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2021,第4期
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