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沈开阳1，刘亚丽1，张明珠2（美的集团IoT公司；广东中创智家科学研究有限公司）.基于5W2H工具的小家电实验室建设过程探讨[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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李钦，吴琼瑶，伍明娟，林珑君，段大川，林雪梅（中国电子科技集团公司第四十四研究所）.EMCCD倍增增益老化分析与评价技术[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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李华府（中国空空导弹研究院第十六研究所）.基于仿射分析法的复杂电路容差分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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翁章钊，戴宗倍，蔡宗棋，梁俊豪，罗道军，王小强，周帅，罗军，梁永红（工业和信息化部电子第五研究所）.厚膜片式电阻器抗硫化能力提升方案验证研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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刘晶晶（工业和信息化部电子第五研究所）.关于进一步激发检验检测科技人才活力的思考[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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高馨1,2，吴凡1,2，张棠清1,2（工业和信息化部电子第五研究所；工业装备质量大数据工业和信息化部重点实验室）.液晶面板生产过程质量分析闭环管控应用[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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（《电子产品可靠性与环境试验》编辑部）.关于防范不法分子对本刊作者进行诈骗的声明[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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《电子产品可靠性与环境试验》编辑部.征稿启事[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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（《电子产品可靠性与环境试验》编辑部）.投稿须知[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第2期
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贺云，肖梦燕，唐锐（工业和信息化部电子第五研究所）.FPGA 内部资源测试探讨[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第1期
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伍盛达，田宇（工业和信息化部电子第五研究所）.红外热成像技术在数据中心预测性维护中的应用[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第1期
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水清波（工业和信息化部电子第五研究所华东分所）.通用卡尺内量爪检定装置的分析与设计[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第1期
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袁尚，李熙铭，张佳兴，徐践（北京农学院）.红外测温校准模型研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第1期
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郭彬（中国电子科技集团公司第十三研究所）.五倍频器倍频效率的影响因素分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第1期
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袁胜军，阳川，李博识，贺伟，廖啟龙（重庆赛宝工业技术研究院有限公司）.电磁兼容接地分析与设计[J].电子产品可靠性与环境试验,2022,第1期
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