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刘述，张雷，杨哲，郭振东（中国信息通信研究院；北京神州数码云科信息技术有限公司）.低时延通信测试仪的精度验证研究★[J].电子质量,2023,第12期
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王涛，裴宇婷（无锡中微高科电子有限公司）.晶圆级封装微凸点脱落失效分析[J].电子质量,2023,第12期
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彭过房，白耀文，李星星（工业和信息化部电子第五研究所）.PCB 板面离子的测试技术介绍及应用[J].电子质量,2023,第12期
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